Hybrid gate-level 누설 전류 모델의 gate library characterization에 적합한 error metric Author 권현정,박해성,김진욱,김영환 Journal 대한전자공학회 SoC 설계 연구회, UNIST Impact factor Year May. 16, 2015 Category . 목록 이전글버스 기반 MPSoC 구조에서의 태스크 매핑 알고리즘에 대한 조사 18.12.27 다음글경계 기반 영역 병합을 통한 영상 분할 18.12.27